申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：107年 - 107 高考三級材料分析#70938
科目：材料分析
年份：107年
排序：0

一、可以利用 X 光繞射光譜（diffraction spectrum）或是電子繞射圖譜（diffraction pattern）來分析晶體的晶格常數（lattice constant），請論述那一個技術可以得到較準確的值？（10 分）