一、可以利用 X 光繞射光譜（diffraction spectrum）或是電子繞射圖譜（diffraction pattern）來分析晶體的晶格常數（lattice constant），請論述那一個技術可以得到較準確的值？（10 分）

三、在單晶基板上成長多晶薄膜，此多晶薄膜常有不同程度之優選方位（preferred orientation）或織構（texture）的特性，進而影響材料物理性質。請詳述一個可以分析優選方位或織構的分析技術，包含原理、方法及可得到的資訊。（10 分）