申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：114年 - 114 司法、調查特種考試_三等_鑑識人員、化學鑑識組：儀器分析#130166
科目：儀器分析
排序：0

一、關於基質輔助雷射脫附游離飛行時間式質譜儀（MALDI-TOF MS），請回答下列問題：

三、奈米粒子追蹤分析（Nanoparticle tracking analysis, NTA）和動態光散射（Dynamic light scattering, DLS）是兩種主要的粒徑分析技術，請分述其原理，（10 分）以及二者於應用的獨特優勢。（10 分）