35. 關於 MIL-STD-414 貨批之允收條件，下列何者錯誤？
(A) M 法可應用於單邊或雙邊規格界限
(B) k 法不需要估計貨批之不合格率
(C) M 法只需由樣本平均數估計貨批之不合格率
(D)全距法之缺點為需要較大之樣本數

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統計： A(0), B(6), C(6), D(4), E(0) #3186073

詳解 (共 1 筆)

#7001954
1. 題目解析 MIL-STD-414 ...
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