35. 關於 MIL-STD-414 貨批之允收條件，下列敘述何者錯誤？
(A) M 法只需由樣本平均數估計貨批之不合格率
(B) k 法不需要估計貨批之不合格率
(C) M 法可應用於單邊或雙邊規格界限
(D) 全距法之缺點為需要較大的樣本數

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