試題詳解

試卷：107年 - 107 臺灣菸酒股份有限公司_從業職員及從業評價職位人員甄試_從業評價-電子電機：電子學#71755 | 科目：電子學

試卷名稱：107年 - 107 臺灣菸酒股份有限公司_從業職員及從業評價職位人員甄試_從業評價-電子電機：電子學#71755

年份：107年

科目：電子學

36. 一N型半導體因熱能影響而產生的新電子或新電洞數何者較多？
(A)不會產生新電子或電洞
(B)一樣多
(C)電洞數
(D)電子數

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王冠勳

B1 · 2019/03/17

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