申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：108年 - 108 高等三級材料分析#77936
科目：材料分析
年份：108年
排序：0

題組內容

一、X 光繞射分析為解析材料晶體結構常用的技術，

申論題內容

⑵當欲分析的樣品為薄膜時，一般會選用低掠角 X 光繞射儀，請說明其原因。（5 分）