申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：110年 - 110 高等考試_三級_材料工程：材料分析#102742
科目：材料分析
年份：110年
排序：0

一、空間解析度（spatial resolution）是成像技術重要規格，請分別對光學顯微鏡（OM），穿透式電子顯微鏡（TEM）及掃描式電子顯微鏡（SEM），論述決定其空間解析度的成因，並敘述如何提升其空間解析度。（25 分）