申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：110年 - 110 高等考試_三級_材料工程：材料分析#102742
科目：材料分析
年份：110年
排序：0

四、X-光光電子能譜儀（XPS）與歐傑電子能譜儀（AES）都是分析化學鍵結非常有用的技術，請先論述個別技術之原理，說明其結果呈現方式，再詳細說明這兩個技術之不同處。電子能量損失能譜圖（EELS）比上述兩個技術上有何分析上的優勢？（25 分）