阿摩線上測驗 登入

試題詳解

試卷：96年 - 96 原住民族特種考試_五等_電子工程：電子學大意#24663 | 科目：初等/五等/佐級◆電子學大意

試卷資訊

試卷名稱：96年 - 96 原住民族特種考試_五等_電子工程：電子學大意#24663

年份：96年

科目：初等/五等/佐級◆電子學大意

34 小明在量測實驗室所作出的矽晶電晶體，發現開燈和關燈所量測到的電流－電壓特性相差很多。下 列何者為最可能的原因？
(A)照光後元件發生崩潰現象
(B)照光後的輻射熱效應
(C)照光後，矽晶體吸光所產生的光電流
(D)照光後，矽晶體熱漲冷縮所誘發的電流改變
正確答案：登入後查看

詳解 (共 1 筆)

推薦的詳解#5368253
未解鎖
光二極體工作於逆向偏壓時，外界光照射於p...
(共 89 字，隱藏中）
前往觀看
1
0