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申論題資訊

試卷:110年 - 110 地方政府特種考試_三等_電子工程:半導體工程#104839
科目:半導體工程
年份:110年
排序:0

題組內容

三、如下圖所示為一霍爾效應(Hall effect)量測結構,所量測為一半導體薄 膜長方形結構。電流 I 如圖所示,由接點 a 流入,接點 b 流出。磁場 B 為出紙面方向,與薄膜電流方向垂直。由接點 c 與接點 d 量得的電壓為 61b9501031531.jpg;由接點 e 與接點 d 量得的電壓為 61b95028eb86f.jpg
61b9506d92c48.jpg

申論題內容

(一)若此半導體為 n 型半導體,由電子傳導,問電子會堆積在 e 接點側或 d 接點側?電壓 61b95028eb86f.jpg為正或為負?說明你的理由。若半導體為 p 型半 導體又會如何?(10 分)