申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：113年 - 113 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#121494
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：113年
排序：0

三、抽驗電子晶片並建構一不良數管制圖（ chart），製程工程師以每 100 個為單位批量進行抽檢。現從生產線上抽取出 10 個單位批量，得檢驗數據如下表所示。（每小題 5 分，共 20 分）

根據樣本資料，試計算出缺點數管制圖之相關數字：

(二)管制上限（Upper control limit, UCL）。