題組內容

三、抽驗電子晶片並建構一不良數管制圖（668f998792f8c.jpg chart） ，製程工程師以每 100 個為單位批量進行抽檢。現從生產線上抽取出 10 個單位批量，得檢驗數 據如下表所示。（每小題 5 分，共 20 分）
668f999b60db8.jpg
根據樣本資料，試計算出缺點數管制圖之相關數字：

(二)管制上限（Upper control limit, UCL）。