⑷晶片檢驗線上，檢驗出第 2 個不良品所需總檢驗次數。

二、令 X 表示某產品的品質指標，如晶片中心點厚度等。令 n 為每次檢查的樣品數。現在欲建立一個監控「平均數 μX, 」的管制圖，依傳統 ARL0與 ARL1為評判標準，下列那一個建議比較好？說明理由。（20 分） ‧小王建議(a)採用統計量 (n = 3)，(b)管制圖上下限：。 ‧小李建議(a)採用統計量 (n = 5)，(b)管制圖上下限：。