申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：108年 - 108 普通考試_工業工程：工程統計學與品質管制概要#77639
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：108年
排序：0

五、Shewhart Attribute 管制圖：

(A)令 Xi =1，若晶片是破片；否則定義 Xi = 0。Xi ~ Bernoulli 分配。

(B)令 Zi 為晶片 i 上的總缺點數。Zi ~Poisson 分配。假設每個時間點檢查 n=3 個晶片，將下列 4 個計數管制圖的 y 軸的統計量寫成上述 Xi 或 Zi 的函數。（每小題 5 分，共 20 分）

⑶ c Chart