申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：94年 - 94 地方政府特種考試_三等_電子工程：半導體工程#40578
科目：半導體工程
年份：94年
排序：0

題組內容

八、在量測半導體晶片或磊晶層的濃度，我們通常使用霍爾效應（Hall effect）及電容-電壓（C-V）方法。

申論題內容

(二)請說明這兩種方法量測出來的濃度，何者會較高？為什麼？（10 分）