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申論題

試卷：96年 - 96 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#35232
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：96年
排序：0

申論題資訊

試卷：96年 - 96 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#35232
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：96年
排序：0

申論題內容

⑶評估 TFT-LCD 面板好壞的方式有ㄧ為“面板上的微粒數”，問微粒數的分布 為 ________分布，（4 分）若要以此評估兩條面板生產線的好壞，蒐集數據後， 在檢定時的統計量公式為________ 。（6 分）