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工程統計學與品質管制概要
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96年 - 96 高等考試_三級_工業工程：工程統計學與品質管制#35232
> 申論題
題組內容
一、是非題：（必須簡略說明理由）
⑸產品的 Cpk愈大，表示產品數據的分布愈廣。（6 分）
相關申論題
⑴五個標準差的流程一定比四點五個標準差的流程不良率低。（6 分）
#93537
⑵標準差的管制界線一定比全距的管制界線寬。（6 分）
#93538
⑶只要在 X-Y 散佈圖上看到直線，就可以用 X 來線性預測 Y。（6 分）
#93539
⑷要管制產品特性值時，隨時可建立其管制圖。（6 分）
#93540
⑴估算數據分散程度的三種方式為 ______
#93542
⑵評估一個量測系統好壞的圖示為________ 。（6 分）
#93543
⑶評估 TFT-LCD 面板好壞的方式有ㄧ為“面板上的微粒數”，問微粒數的分布 為 ________分布，（4 分）若要以此評估兩條面板生產線的好壞，蒐集數據後， 在檢定時的統計量公式為________ 。（6 分）
#93544
⑷令（LSL, USL）為雙邊規格且規格中點為目標 T，製程能力指標中只控管準度 （accuracy）的指標為 (5) ________，（2 分）其公式為 (6) ________，（4 分）只控管 精度（precision）的指標為 (7) ________，（2 分）其公式為 (8)________ 。（4 分）
#93545
⑸ T 為自由度為 15 的 t 分布，則 T2為自由度為 (9) ________（2 分）的 (10) 分 布。（4 分）
#93546
三、在利用機器度量取得工業產品的計量數據時，每一個數據會包含那幾類的誤差？ （10 分）
#93547
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