申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：113年 - 113 普通考試_工業工程：工程統計學與品質管制概要#121505
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：113年
排序：0

三、晶圓廠商欲建構一個缺點數管制圖（C chart）以管制晶圓上的缺點數，因此從生產線上抽取出 10 片晶圓進行檢驗，得缺點數資料如下表所示。

根據樣本資料，試回答以下問題：

(三)除了管制界限以外，還有一種界限稱為規格界限。以上限為例，請問 UCL 跟規格上限（Upper specification limit, USL）獲得方式的差異為何？（10 分）