申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：113年 - 113 普通考試_工業工程：工程統計學與品質管制概要#121505
科目：工程統計學與品質管制概要
年份：113年
排序：0

三、晶圓廠商欲建構一個缺點數管制圖（C chart）以管制晶圓上的缺點數，因此從生產線上抽取出 10 片晶圓進行檢驗，得缺點數資料如下表所示。

根據樣本資料，試回答以下問題：

(二)請計算管制上限（Upper control limit, UCL）與管制下限（Lower control limit, LCL）分別為多少？（10 分）