題組內容

三、晶圓廠商欲建構一個缺點數管制圖（C chart）以管制晶圓上的缺點數，因此從生產線上抽取出 10 片晶圓進行檢驗，得缺點數資料如下表所示。
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根據樣本資料，試回答以下問題：

(二)請計算管制上限（Upper control limit, UCL）與管制下限（Lower control limit, LCL）分別為多少？（10 分）