申論題 - 阿摩線上測驗

申論題資訊

試卷：113年 - 113 高等考試_二級_電子工程：積體電路技術#123067
科目：積體電路技術
年份：113年
排序：0

題組內容

三、試分別說明晶體成長時產生如下的四種晶體缺陷（Crystal defect）：

申論題內容

(二)線缺陷（Line defect）