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102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
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申論題
試卷:102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
科目:半導體製程
年份:102年
排序:0
申論題資訊
試卷:
102年 - 102 專利商標審查特種考試_三等_電子工程:半導體製程#44432
科目:
半導體製程
年份:
102年
排序:
0
題組內容
二、
申論題內容
⑴對於 PECVD 製程中,使用 TEOS 可以達到最大沉積速率的溫度大約為 250℃。 為什麼 ILD(Inter-layer Dielectric)TEOS 製程溫度在 400℃左右或更高的溫度下操 作?(5 分)