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申論題資訊

試卷:96年 - 96 專利商標審查特種考試_三等_電子工程、光電工程:半導體製程#49315
科目:半導體製程
年份:96年
排序:0

申論題內容

二、在矽晶圓(Si wafer)上形成二氧化矽(SiO2)膜之製程方式一般有那些?各製程形成 之二氧化矽(SiO2)膜品質有何不同?各應用在矽半導體元件之何處?(20 分)