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99年 - 99 專利商標審查特種考試_三等_光電工程:半導體製程#52308
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申論題
試卷:99年 - 99 專利商標審查特種考試_三等_光電工程:半導體製程#52308
科目:半導體製程
年份:99年
排序:0
申論題資訊
試卷:
99年 - 99 專利商標審查特種考試_三等_光電工程:半導體製程#52308
科目:
半導體製程
年份:
99年
排序:
0
題組內容
一、
申論題內容
⑵成長薄膜的方式包含沉積(Deposition)與磊晶(Epitaxy),請說明這兩種方式 的差異性。(10 分)